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新聞資訊

美研| CMC係列(十三):X射線粉末衍射法在藥物晶型定性分析中的應用

2024-04-28
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開篇引言

藥物固態表征方法有很多,X射線粉末衍射(XRPD)、熱重分析(TGA)、差示掃描量熱(DSC)、紅外(IR)、拉曼(Raman)、固態核磁(ssNMR)、動態水分吸附(DVS)、熱台顯微鏡、掃描電鏡(SEM)、偏振光顯微鏡(PLM)。其中,XRPD憑借快速、直觀、樣品用量少,樣品不被破壞可回收的優點,已成為藥物晶型研究的首選表征方法及金標準,廣泛用於藥物固態的定性和定量等研究,貫穿藥物固態研究的各個階段。

FDA Guidance: X-ray powder diffraction can also be used to provide unequivocal proof of polymorphism.

i. 《中國藥典》2020年版第四部0451專門闡述了藥品研究中X射線衍射法的應用;9015則指明了藥品晶型研究及晶型質量控製。
ii. 美國藥典(USP)941章節介紹了有關Characterization of Crystalline and Partially Crystalline Solids by X-Ray Powder Diffraction (XRPD)。
iii. 歐洲藥典(EP 10.8)在《5.9 Polymorphism》和《5.16 Crystallinity》中對晶型定義闡明了XRPD用於藥物晶型表征。
iv. 日本藥典(JP XVII)中收錄了晶型描述以及XRPD表征方法。

01 X射線衍射法和原理

X射線衍射法(XRPD, X-ray powder diffraction)是一種利用單色X射線光束照射到被測樣品上,檢測樣品的三維立體結構(含手性、晶型、結晶水或結晶溶劑)或成分(主成分及雜質成分、晶型種類及含量)的分析方法。其原理是:X射線是一種高能電磁波,能夠穿透物質並與其中的原子或者分子產生相互作用。當X射線照射原子排列規律不同的固體時,會產生不同的衍射圖譜。因此,不同晶型的XRPD譜圖往往差異很大,具有指紋屬性,易於區分,如圖1所示。

圖1-幾何測量原理圖.jpg

圖1. 幾何測量原理圖

02 X射線粉末衍射(XRPD)圖的組成

X射線粉末衍射圖是化合物結構參數間接信息,變化萬千,隨物質結構不同而異。那麽,該如何解讀衍射圖?

組成X射線粉末衍射圖的三要素為:峰位、峰強、峰形(線形)。衍射峰強受晶體結構、樣品特性(擇優取向、吸收、孔隙率)和儀器參數影響。晶型是由化合物的晶胞參數(a,b,c,a,β,γ)定義的,而晶胞參數(a,b,c,a,β,γ)影響的是衍射峰的峰位置。其他檢測指標如峰強度,則由原子參數決定,並受到擇優取向的影響。

因此,判斷晶型一致性時,取決於藥物晶型衍射峰的位置,而不是衍射峰的強度或強弱順序。

判斷晶型一致性時,取決於藥物晶型衍射峰的位置,而不是衍射峰的強度或強弱順序.jpg

03 X射線粉末衍射(XRPD)的應用

1、區分晶態物質和非晶態物質(無定型)

中國藥典2020版0451指出,晶態物質的粉末X射線粉末衍射峰是由數十乃至上百個銳峰(窄峰)組成;而非晶態物質的粉末X射線粉末衍射峰的數量較少且呈彌散狀(為寬峰或饅頭峰),如圖2所示。

圖2-某一化合物結晶態和無定型的XRPD對比圖.jpg

圖2.某一化合物結晶態和無定型的XRPD對比圖

2、鑒別多晶型

當某一化合物有兩種或兩種以上的不同固體物質狀態時,即存在有多晶型(或稱為同質異晶)現象。

多晶型現象可以由樣品的分子構象、分子排列規律、分子作用力等變化引起,也可由結晶水或結晶溶劑的加人(數量與種類)形成。不同晶型的XRPD圖在衍射峰數量、衍射峰位置、衍射峰強度以及衍射峰的形狀上顯現出差異。

化合物的每一種晶型都會產生一種特有的X射線粉末衍射圖,XRPD圖可以作為晶體的指紋圖譜,用於鑒定區分不同晶型,如圖3所示。

圖3-某一化合物不同晶型的XRPD對比圖.jpg

圖3. 某一化合物不同晶型的XRPD對比圖

3、評估物質的結晶度

當化合物結晶狀態比較好、結晶度比較高時,XRPD圖基線水平,峰形尖銳。反之,結晶度低時,基線不水平,出現漫散包,峰不尖銳,峰形寬化。

結晶度用來表示物相中結晶態物質所占的比例,同一種晶型,一般結晶度越高,熔點越高,如圖4所示。

圖4-同一晶型不同結晶度的XRPD對比圖.jpg

圖4.同一晶型不同結晶度的XRPD對比圖

04 XRPD在晶型鑒別方麵常見的問題

多數情況下,晶型的判斷並不困難。隻要其XRPD譜圖一致(所有的衍射峰位置一致),就可以判斷為同一晶型。但是在實際晶型鑒別中,我們也會經常遇到以下問題:

i:單一晶型還是混晶?
ii:相似的XRPD圖,晶型是否一致?
iii:XRPD多峰或者少峰,晶型該如何判斷?
iv:XRPD峰偏移,晶型該如何判斷?
v:XRPD峰分叉晶型又該如何抉擇?

i:單一晶型還是混晶?

1、培養單晶,通過和單晶模擬的粉末衍射圖比對

單晶是判斷晶型是否為單一晶型最直接的方法。通過培養目標晶型的單晶,然後通過單晶數據模擬XRPD譜圖,與實測XRPD譜圖進行對比。如果一致,則說明是單一晶型,如圖5所示。

圖5-某化合物單晶模擬和實測的XRPD對比圖.jpg

圖5. 某化合物單晶模擬和實測的XRPD對比圖

2、通過不同的結晶方式,獲得多批次樣品的XRPD

若多批次重結晶實驗(采用不同的結晶方式,不同的溶劑體係)獲得樣品的XRPD圖一致,那麽就可以認為是單一晶型,如圖6所示。

圖6-某化合物不同結晶方式獲得的XRPD對比圖.jpg

圖6.某化合物不同結晶方式獲得的XRPD對比圖

3、結合不同表征技術進行全麵的表征

DSC等輔助手段也可以用於是否單一晶型的判斷。如果是單一晶型,那應該有單一的熔化峰。如果DSC檢測有兩個或者多個熔化峰,則有可能是混晶。NMR、TGA、KF等則可以對水合物、溶劑化物的情況進行判斷。

4、晶型標準譜圖對比

和對照品XRPD圖對比,和專利文獻報道的XRPD譜圖對比,以確定當前製備的晶型是混晶還是單一晶型。

ii:相似的XRPD圖,晶型是否一致?

同種物質(單一成分或者包含溶劑)的不同晶型可能晶體結構相似。比如無水物和水合物之間,不同含水量的水合物之間,無水物和溶劑合物之間,水合物和溶劑合物之間,不同的溶劑合物之間就可能晶型結構相似,簡稱isostructural。

此外,不同物質其實也可能具有相似的結構(即相似的XRPD圖),比如氘代和非氘代化合物,異構體。對於這些情況,僅從XRPD圖譜是很難判斷的。需要結合項目背景信息,比如合成工藝,結晶工藝、化合物的多晶型情況,還需要結合其它表征手段綜合分析,才能得到客觀科學的結論,如圖7-圖9所示。

圖7-氘代和非氘代的XRPD對比圖.jpg

圖7.氘代和非氘代的XRPD對比圖

圖8-對映異構體(蘋果酸)的XRPD對比圖.jpg

圖8.對映異構體(蘋果酸)的XRPD對比圖

圖9--某新藥不同溶劑合物的XRPD對比圖.jpg

圖9.某新藥不同溶劑合物的XRPD對比圖

iii:XRPD多峰或者少峰,晶型該如何判斷?

在進行晶型一致性判斷時,少峰的情況(與標準品對比)相對問題較小,可以認為是該批次樣品可能由於結晶情況與以往批次不同,導致某個或者某些晶麵結晶度比較低,因而沒有出峰。比較難判斷的是XRPD譜圖多峰的情況,出現多峰的情況,一定要引起重視。

多峰很可能有以下幾種情況:
樣品晶型不純,不是單一晶型而是混晶;
樣品未完全幹燥,溶劑引起的多峰,尤其是在低角度多出的一些未知衍射峰,很可能是溶劑引起,建議幹燥後再進行XRPD檢測;
樣品被汙染,混入了外來物質(機械雜質和化學雜質),比如攪拌子的塗層PTFE脫落導致在18-19°有特征的衍射峰,化學雜質包括工藝相關雜質、異構體、無機鹽等;
擇優取向或者顆粒較大也是引起多峰或者少峰的最常見原因。擇優取向體現在XPRD譜圖上為有某個或者幾個衍射峰強度非常高,其它的衍射峰相比則顯得非常低,甚至不出峰。

擇優取向常發生在片狀和針狀晶體。比較極端的情況,某些比較弱的衍射峰會消失,但對其研磨後衍射峰會出現。無論是片狀晶體還是針狀晶體,在研磨後,樣品的形貌會趨向於不規則和隨機的分布,此時每個晶麵暴露在X射線下的概率也會趨向於一致,所以XRPD衍射峰就沒有明顯的擇優取向。當然,研磨有可能會導致樣品結晶度下降,甚至變為無定形,所以研磨時要注意研磨的強度和時間,如圖10-圖13所示。

圖10-混晶引起的XRPD多峰圖.jpg

圖10.混晶引起的XRPD多峰圖

圖11-外來物引起的XRPD多峰圖.jpg

圖11.外來物引起的XRPD多峰圖

圖12-溶劑引起的XRPD多峰圖.jpg

圖12.溶劑引起的XRPD多峰圖

圖13-擇優取向引起的XRPD多峰圖.jpg

圖13.擇優取向引起的XRPD多峰圖

iv:XRPD峰偏移,晶型該如何判斷?

峰偏移經常發生在水合物脫水前後或者樣品熱處理前後的XRPD圖上。非化學計量比水合物與對應的無水晶型具有相似的晶體結構,隻有少數衍射峰有差異。脫水後,晶格收縮,晶麵間距減小,導致衍射峰右移。

同樣,溫度對於XRPD的位置也有影響。熱脹冷縮是一個物質的基本屬性,同樣適用於晶體。根據布拉格公式2d sin θ=n λ,溫度升高,晶體膨脹,在波長不變的情況下,晶麵間距d值增大,必然使sin θ 變小,即峰位左移。

另外,樣品受到擠壓,產生均勻的顆粒應變,比如壓片,亦可能導致峰位右移。具體如圖14和圖15所示。

圖14-水合物脫水引起的XRPD峰偏移圖.jpg

圖14.水合物脫水引起的XRPD峰偏移圖

圖15-受熱和應力存在引起的XRPD峰偏移圖.jpg

圖15.受熱和應力存在引起的XRPD峰偏移圖

v:XRPD峰分叉晶型又該如何抉擇?

在XRPD譜圖分析時,如果遇到峰裂分等情況時,可能是顆粒表麵粗糙度、顆粒太大、晶體結構缺陷等因素引起,研磨再測試可以解決大部分的問題。具體如圖16所示。

圖16--氯化鈉不同顆粒大小引起的XRPD峰分叉圖.jpg

圖16.氯化鈉不同顆粒大小引起的XRPD峰分叉圖

05 hjc黄金城的技術和服務

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參考文獻

[1] 《中國藥典》(2020年版)中0451 X射線衍射法
[2] 〈941〉 CHARACTERIZATION OF CRYSTALLINE AND PARTIALLY CRYSTALLINE SOLIDS BY X-RAY POWDER DIFFRACTION (XRPD).
[3] PECHARSKY V K, ZAVALIJ P Y. Fundamentals of Powder Diffraction and Structural Character of Materials [M]. Spring-er, 2005:161.

美研|CMC係列回顧

CMC係列(一)|淺談藥物研發中原料藥工藝研究的重要性

CMC係列(二)|藥學研究之世界銀屑病日

CMC係列(三)|高端吸入藥物的市場格局和研究現狀

CMC係列(四)|淺談手性藥物的研究策略

CMC係列(五)|藥物晶型控製策略

CMC係列(六)|含氮類化合物-可揮發堿性有機胺的氣相分析

CMC係列(七)|新藥研究中的固態開發挑戰及應對策略

CMC係列(八)|淺析ICH指導原則Q3C及未收錄殘留溶劑限度製定方法

CMC係列(九)|定量核磁應用及其方法驗證/定量核磁那些事兒

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